該單位是中國科學院下屬研究所，是我國微電子科學技術(shù)與集成電路領(lǐng)域的重要研發(fā)機構(gòu)。主要應用方向為化合物半導體器件和電路的相關(guān)研究。

PLSINTEC公司生產(chǎn)的UltraShapeTM晶圓形貌尺寸檢測及分選系統(tǒng)是可實現(xiàn)行業(yè)最高產(chǎn)能的檢測系統(tǒng)。晶圓形貌尺寸檢測在制程中具有重要意義。

在半導體設(shè)計、制造、封裝中的各個環(huán)節(jié)都要進行反復多次的檢測、測試，以保證工藝符合預設(shè)指標，防止出現(xiàn)偏差和缺陷的不合格晶圓進入下一道工藝流程。從設(shè)計驗證到整個半導體制造過程，檢測設(shè)備具有無法替代的重要地位。

UltraShapeTM晶圓形貌檢測及分選系統(tǒng)使用高精度高速光譜共焦雙探頭對射傳感器，實現(xiàn)晶圓的非接觸式測量；結(jié)合高精度運動模組及晶圓機械手，對于晶圓形貌的測量精度達到亞微米級。該系統(tǒng)適用于多種材質(zhì)的晶圓，包括硅、碳化硅、藍寶石、玻璃、砷化鎵、氮化鎵等；可以實現(xiàn)的尺寸與結(jié)構(gòu)測量內(nèi)容包括TTV、Bow、Warp、Thickness、TIR、Sag、LTV （Fullmap測試）等。