該客戶為中國東北部的一家中科院單位，主要研究領(lǐng)域：聚焦先進材料。先進材料領(lǐng)域布局先進材料設(shè)計、先進結(jié)構(gòu)材料、先進復合材料、先進功能材料與器件、先進能源材料與器件、電分析儀器等6個主要研究方向；該單位擁有多個國重實驗室；是國務(wù)院學位委員會授權(quán)培養(yǎng)碩士、博士和建立博士后流動站的單位之一，是中國科學院博士生重點培養(yǎng)基地。
FR-ES膜厚測量儀采用的是波長范圍在370-1020nm的可見光干涉測量，能夠測量12nm-100um范圍的膜層厚度，準確度高達0.1%或1nm，精度為0.05nm，是一款性價比很高的膜厚測量設(shè)備。
配件包括：
濾光片 -- 可適用光刻膠
FR-Mic -- 用于微米級別區(qū)域測量
手/自動載物臺 -- 100x100mm或200x200mm
薄膜/杯架 -- 用于吸收率/透射率和化學濃度測量
積分球 -- 用于漫反射和全反射
API -- 二次軟件開發(fā)
接觸式探頭 -- ST是用于彎曲樣品反射率膜厚測量的附件
通過不同模塊的組合，最終設(shè)置可滿足用戶的任何需求。
