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Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個模塊化和可擴(kuò)展平臺的光學(xué)測量設(shè)備，用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。

硬化涂層膜厚儀是一款快 速、準(zhǔn)確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。