當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 膜厚儀 > Thetametrisis膜厚儀 > FR-IntSphere-AIO緊湊型全反射與漫反射測量工具
簡要描述：FR-ΙntShpere-AIO 是一套用于精確測量全反射、漫反射及鏡面反射分量的整體解決方案。該設(shè)備集成了穩(wěn)定的 VIS/NIR 光源、反射式積分球以及具有高光學(xué)分辨率的光譜儀。通過 FR-Monitor v4.0 軟件進行控制，以計算和分析所有光學(xué)參數(shù)（如反射率、顏色等）。
產(chǎn)品型號：FR-IntSphere-AIO廠商性質(zhì)：代理商產(chǎn)品資料：更新時間：2026-04-21訪 問 量： 22產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
1.簡介
FR-IntSphere-AIO是一款獨立、緊湊且便攜的解決方案，能夠在寬光譜范圍內(nèi)對任意表面的反射分量進行快速、細(xì)致且精確的表征。借助FR-IntSphere-AIO，用戶可以精確測量 380-1000nm 光譜范圍內(nèi)的全反射、漫反射和鏡面反射。 FR-IntSphere-AIO將穩(wěn)定的VIS/NIR光源、高品質(zhì)的30mm 或50mm積分球，以及高靈敏度、高光學(xué)分辨率的光譜儀集成在一個緊湊的外殼中，無需額外模塊即可實現(xiàn)精確的反射率測量。內(nèi)置的積分球采用了高反射率的朗伯體PTFE（聚四氟乙烯）涂層，樣品端口直徑為 10mm，設(shè)計人性化，操作
簡便。入射端口和出射端口相對于法線方向呈 8°角布置，通過光陷阱抑制樣品的鏡面反射，從而實現(xiàn)對漫反射率的測量。當(dāng)用與積分球內(nèi)表面相同材料制成的光澤陷阱替換光陷阱時，即可測量總反射率。
2.產(chǎn)品特點
3.技術(shù)規(guī)格
工作原理
反射率測量的工作原理。將樣品放置在頂部，待測面朝向積分球的樣品口。光譜儀和光源安裝在機箱內(nèi)部，并連接到相應(yīng)的端口。
使用 FR-IntSphere-AIO-LC ，對高反射率 PTFE（聚四氟乙烯）、未拋光硅片（Si）以及黑色陽極氧化鋁樣品進行的總反射率、漫反射率和鏡面反射率測量結(jié)果。
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